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DDR3中ODT与ZQ介绍

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发表于 2014-11-3 09:30:13 | 显示全部楼层 |阅读模式

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ODT电阻介绍
ODT(On-Die Termination)
综述
是内建核心的终结电阻器。我们知道使用DDRSDRAM的主板上面为了防止数据线终端反射信号需要大量的终结电阻。它大大增加了主板的制造成本。实际上,不同的内存模组对终结电路的要求是不一样的,终结电阻的大小决定了数据线的信号比和反射率,终结电阻小则数据线信号反射低但是信噪比也较低;终结电阻高,则数据线的信噪比高,但是信号反射也会增加。因此主板上的终结电阻并不能非常好的匹配内存模组,还会在一定程度上影响信号品质。DDR2可以根据自己的特点内建合适的终结电阻,这样可以保证最佳的信号波形。使用DDR2不但可以降低主板成本,还得到了最佳的信号品质,这是DDR不能比拟的。
作用
DDRII内建了终结电阻器,在DRAM颗粒工作时把终结电阻器关掉,而对于不工作的DRAM颗粒则打开终结电阻,减少信号的反射。ODT至少为DDRII带来了两个好处,一个是去掉了主板上的终结电阻器使主板的成本降低,也使PCB板的设计更加容易。第二个好处是终结电阻器可以和内存颗粒的"特性"相符,使DRAM处于最佳状态。
主板终结电阻控制电压与ODT在写入数据时的比较
主板终结电阻控制电压与ODT在读取数据时的比较
出于兼容性的考虑,DDR2标准在制定之初似乎显得有些缩手缩脚,这也直接导致其各方面表现比起DDR没有长足进步。新一代的DDR3采用了ODT(核心整合终结器)技术以及用于优化性能的EMRS技术,同时也允许输入时钟异步。在针脚定义方面,DDR3表现出很强的独立性,甚至敢于彻底抛弃TSOPII与mBGA封装形式,采用更为先进的FBGA封装。DDRIII内存用了0.08微米制造工艺制造,将工作在1.5V的电压下。
ZQ用来校正DRAM的驱动能力Ron和ODT,以动态的加强DDR3的信号完整性,校验时考虑了温度,电压和SDRAM颗粒的制程差异。
ZQDDR3新增的ZQ校准功能,在这个引脚上接有一个240欧姆的低公差参考电阻。这个引脚通过一个命令集,通过片上校准引擎(On-Die Calibration EngineODCE)来自动校验数据输出驱动器导通电阻与ODT的终结电阻值。当系统发出这一指令后,将用相应的时钟周期(在加电与初始化之后用512个时钟周期,在退出自刷新操作后用256个时钟周期、在其他情况下用64个时钟周期)对导通电阻和ODT电阻进行重新校准。
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